Leica EM TIC 3X
Pro dosáhnutí vysoké kvality řezů tvrdých materiálů bez deformací povrchu pozorované plochy slouží iontová leštička Leica EM TIC 3X. Systém s trojicí iontových děl je určen k přípravě tvrdých, porézních, teplocitlivých, křehkých nebo různorodých materiálů pro SEM, AFM a mikrostrukturální analýzy (EDS, WDS, Auger, EBSD). Unikátní systém s trojicí iontových děl umožňuje zkrátit dobu přípravy vzorku a dosáhnout hlouběji do vzorku. Přístroj lze nakonfigurovat pomocí velkého množství držáků vzorků přesně dle požadavků dané aplikace. Systém dále umožňuje kontrastování a použití chlazeného stolku.
Zaujal Vás tento přístroj?
![speach bubbles]()
Zeptejte se našich odborníků
Zeptejte se našich odborníkůNevíte přesně co hledat nebo nevíte kde začít? Obraťte se na naše specialisty. Poradí vám ohledně správné volby přístrojů přesně pro vaše účely.
Potřebujete záruční nebo pozáruční servis?
Nabízíme servisní činnosti na přístrojích. Provedeme instalaci, zaškolení, rekonstrukce a údržbu po celou dobu užívání.